Mayura Padmanabhan and Nishita Rao

偽造半導体による損失と安全保障上のリスクが拡大する中、OBSIDIAは物理特性の分析により、ウェハーから最終製品まで全デバイスの真正性を非破壊で検証します。AI時代の信頼確保には、部品単位の追跡、業界標準化、企業・政府・技術提供者の連携が不可欠だと訴えています。