WITHTECH Inc.
Member Since
Mar 5, 2010
Member ID
206054
Website
Location
28, Dongtansandan 10-gil
Hwaseong-si, Gyeonggi-do
18487
Korea (the Republic of)
Primary Industry
Semiconductor
Primary Product Category
Equipment and Sub-Systems
Primary Product Sub Category
Subsystems
Company Profile
Withtech is the very expert which you can rely on for Airborne Molecular Contamination Monitoring systems in Fab and Process Environments of Semiconductors and the FPD. Our goal is to continually help on your Process and Yield improvement through technology innovation as well as reliability of our products. Highly sensitive AMCs Monitoring systems (LOD0.1ppbv); HAM and NaVi series have been proven to be best and reliable in performance of AMCs detection in semiconductor and FPD industries. More than 10 years, systems have been operating for major semiconductor and FPD makers as standard systems. Our systems can be applied to monitoring of FAB environment, Photolithography, Reticle and Other Manufacturing Process in Semiconductors and FPD. Detectable Gases; NH3, HF, HCl, HNO2, HBr, HNO3, H2SO4, and CH3COOH, etc. SOLA system is also available for lowest metal contamination detection in cleaning process and purity of cleaning solution.
고집적화되는 반도체 공정의 특성상 공기 중 분자성 오염원(AMCs/일반적으로 Gas 성분들)에 의한 성능저하 및 불량이 발생됨으로 오염원의 파악을 통한 신속한 대처의 필요성이 대두. 당사의 Navi Series는 반도체 제조를 위한 Fab과 제조공정환경(주로 Photo공정)에 있어 암모니아 가스와 산성가스(F, Cl, Br, NO2, NO3, SO4, CH3COO, PO4)등의 오염도 측정에 사용됩니다.
고집적화되는 반도체 공정의 특성상 공기 중 분자성 오염원(AMCs/일반적으로 Gas 성분들)에 의한 성능저하 및 불량이 발생됨으로 오염원의 파악을 통한 신속한 대처의 필요성이 대두. 당사의 Navi Series는 반도체 제조를 위한 Fab과 제조공정환경(주로 Photo공정)에 있어 암모니아 가스와 산성가스(F, Cl, Br, NO2, NO3, SO4, CH3COO, PO4)등의 오염도 측정에 사용됩니다.