Shenzhen Angstrom Excellence Technology Co.,Ltd.
Member Since
Jan 31, 2024
Member ID
1134822
Website
Location
龙华区观澜街道观光路1310号龙华半导体产业园埃芯大楼
深圳市
518110
China
Company Profile
产品或服务描述
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埃芯专业从事半导体晶圆制造前道量测和检测设备的研发和销售.公司产品涵盖薄膜量测,光学关键尺量测,光学射套刻量测、X射线薄膜量测.x射线材料性能量测X射线成分及表面污染量则等系列产品及解决案,支持先进逻辑工艺晶圆量测、先进DRAMI艺晶圆量以及先进3DNAND量测。
AE provides advancaed metrology soluction for front end semiconlductor wafer manufacturing process control, including film thickness, critical dimension, overlay, non-deserctive elementary analysis, film serain/stress, etc ..