在專利日益受到重視的知識經濟發展時代，工研院量測中心於經濟部技術處支持下，近年來致力於標準檢測技術之研發，提供產業標準需求之支援，並藉由中心長年經驗與專業，輔導企業藉由標準與專利的優勢競爭力，站穩腳步、佈局全球市場。

為讓國內企業進一步了解參與國際技術標準制訂對企業的好處，以及國際技術標準制定的程序，量測中心和SEMI將在技術處指導下於十二月十二日假工研院光復院區國際會議廳舉辦「SEMI國際技術標準制訂與企業戰力提升研討會」邀請SEMI NARSC Co-chair Jackie Ferrell女士、日月光半導體製造股份有限公司 吳敏如總經理助理、SEMI 張嘉倫資深經理與國內業界進行技術交流，並分享SEMI國際技術標準最新發展、成功案例，以及國際專利佈局，讓企業在面臨全球市場競爭之際，創造絕佳優勢競爭力!

指導單位：
主辦單位：        

* 時間：2011 年 12 月 12 日 (星期一 ) 10:00~16:00 10:00~16:00
* 地點：工業技術研究院光復院區17館國際會議廳(新竹市光復路2段321號)
* 費用：SEMI會員免費 (報名並經主辦單位確定者)
* 詳細議程 & 報名表：立即選此了解

研討會相關問題，歡迎聯絡:
工業技術研究院 蘇小姐 / 潘小姐
TEL: 03-5743890 / 03-5743727 FAX: 03-5716231
E-mail: HallieHYSu@itri.org.tw / YJPan@itri.org.tw