SEMI - 展覽與活動

會議名稱:SEMI Taiwan PV Standards TC Cell Vibration Test Method 工作小組會議 

日期:2011520 

時間:14:00 ~ 16:00 ()

地點:新竹市光復路二段3213R224會議室 (工研院光復院區)

會議主席:吳登峻組長/工研院

議程:     

時間

主持人

14:00~14:05

主席致詞,與會者自我介紹 

吳登峻

14:05~14:10

SEMI® 國際產業技術標準委員會開會須知提醒

張嘉倫

14:10~14:15

Agenda Review

吳登峻

14:15~14:20

上次會議記錄報告

許書宗

14:20~14:30

TF進展報告

許書宗

 

分享及討論

 

14:30~14:50

1.標準文件測試流程介紹

吳登峻

14:50~15:00

2. wafer defect相關參數介紹

許書宗

15:00~15:15

3. wafer/ cell/ Module 製程端及廠內defect總類及影響度

林敬傑

15:15~15:30

周宜衡

15:30~15:50

4.運輸中包裝設計及不同形式應力影響

李昆達

15:50~15:55

臨時動議

吳登峻

15:55~16:00

確認下次會議主席及時間

吳登峻

16:00

散會

 

 

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

  

其它/備註:

1.           會議報名,請洽工研院量測中心 許書宗先生(03-5743864, email: andersonhsu@itri.org.tw )

2.           出席會議,請務必填寫報名回函,以利會議室安排,敬請配合。

3.           出席SEMI標準會議,必須加入並成為SEMI標準會員。

4.           SEMI標準會員註冊網址http://dom.semi.org/standards/stdsmbr.nsf/Mapp!openform

 

  

其他SEMI標準問題請洽:

Catherine Chang張嘉倫/ SEMI Taiwan

Standards & Technologies
(O) 886-3-573-3399 # 217
(M) 886-933-833-662
(E)
cchang@semi.org

 

* SEMI 台灣 PV標準委員會Vibration Test Method工作小組 會議通知 20110520

* (請填妥報名表後e-mailandersonhsu@itri.org.tw, 許書宗先生)

* 光復院區全區圖